作為亞洲激光、光學、光電行業的年度盛會，慕尼黑上海光博會將于2025年3月11-13日在上海新國際博覽中心3號入口廳N1-N5，E7-E4館盛大召開。
2025年正值慕尼黑上海光博會20周年，本屆展會包含兩大同期活動，光學技術大會 PHOTONICS CONGRESS CHINA 和 Light激光與量子國際會議 Light Conference on Laser and Quantum，下設15個會議主題，會議報告預計200場。
光學微納檢測技術論壇
隨著科技的進步和持續發展，微納技術已經成為了現代工業界的熱點領域，也成為衡量國家尖端科學技術水平的指標之一，檢測技術與微納加工技術相輔相成，是加工精度的重要保障。智能制造離不開質量控制，質量是工業制造企業的生命力，而優化質量管理是提升質量競爭力的關鍵，光學檢測則是工業制造過程中產品質量、精度和性能等方面的重要保證。在智能制造時代，光學檢測具有非常大的發展潛力和應用前景。光學微納檢測技術論壇將匯聚光學微納檢測技術專家、科研人員、企業代表和行業領袖，共同探討光學微納檢測技術發展及未來應用。
論壇時間：2025年3月12日
論壇地點：上海新國際博覽中心 E7館論壇區
費用：免費
主辦單位
中國光學學會光學測試專業委員會
慕尼黑博覽集團
承辦單位
清華大學南京理工大學中國科學院長春光學精密機械與物理研究所華中科技大學先進固體激光工信部重點實驗室慕尼黑展覽（上海）有限公司
大會主席
沈華教授，南京理工大學
大會共主席
談宜東教授，清華大學韓冰研究員，
中國科學院長春光學精密機械與物理研究所陳修國教授，華中科技大學
贊助商
論壇主題
微納結構的光學精密檢測技術
論壇日程
時間
演講主題
演講主題及嘉賓
09:00-10:00
注冊簽到
10:00-10:20
FIS4四波剪切干涉傳感技術在微納光學檢測中的應用
楊甬英，浙江大學，教授
10:20-10:40
AI與微納測量
楊樹明，西安交通大學，教授
10:40-11:00
基于硅晶格常數米定義的復現及應用
吳金杰，中國計量科學研究院，研究員
11:00-11:20
先進光電精密測量技術及設備
薛勛，中國科學院西安光學精密機械研究所，研究員
11:20-11:40
基于相位信息條紋分析的漫反射／鏡面復合表面三維形狀測量方法
張宗華，河北工業大學，教授
11:40-12:00
光電測量技術在半導體行業中的應用
代成偉，江蘇集萃中科先進光電所，精測事業部負責人
12:00-14:00
午餐
14:00-14:20
集成電路缺陷檢測技術
周維虎，中國科學院微電子研究所，研究員
14:20-14:40
衍射光學在視光學領域的技術探討
薛常喜，長春理工大學，教授
14:40-15:00
基于散射的IC套刻誤差測量儀器與方法
江浩，華中科技大學，教授
15:00-15:20
寬禁帶半導體原子尺度制造的光譜表征研究
徐宗偉，天津大學，教授
15:20-15:40
從球面、非球面到復雜光學曲面的光學檢測技術研究
馬鑫雪，中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，副研究員
15:40-16:00
一種基于莫爾成像的微位移檢測技術研究
申溯, 蘇州大學, 教授
16:00-16:20
肖特高均勻性光學玻璃助力精密光學檢測儀器
Henning Kaufmann，肖特，光學玻璃產品經理
16:20-16:40
精密光學材料和加工工藝對檢測系統性能的影響
劉云龍，北京創思工貿有限公司，超精密事業部、裝配事業部經理
注：會議議程以當天通告為準
參考資料：
LASER Photonics China
舉辦地區：上海
展會日期：2026年03月18日-2026年03月20日
開閉館時間：09:00-18:00
舉辦地址：上海市浦東新區龍陽路2345號
展覽面積：80000
觀眾數量：94648
舉辦周期：1年1屆
主辦單位：LASER Photonics China
